随着健康穿戴式装置的普及，全球各大厂为提升其产品品质与生产效率，无一不面临一系列的产线测试挑战。这些挑战不仅影响产品的品质，还可能导致生产效率的降低。以下是一些关键的测试情境描述：

工厂产线测试现况：接地与配电状况堪忧

在许多电子产品生产工厂中，接地系统往往不够完善。接地不良会导致静电积聚，进而引发静电放电（ESD）事件，这对于敏感的电子元件来说是相当致命的。尤其在穿戴式装置中，这类元件通常体积小且功能复杂，对环境的敏感度更高。若接地系统无法有效运作，将会导致测试数据的不准确，甚至可能造成设备损坏。 

接地不良的具体影响包括：

- 静电放电风险：静电放电是一种瞬时高电压现象，可能导致电子元件损坏或功能失效。当设备在测试过程中遭遇静电放电时，可能会导致测试结果失真，影响产品品质。

- 信号干扰：接地不良会引起信号的杂讯和干扰，使得测试仪器无法准确读取数据。例如，在心率监测或其他生理信号测试中，不准确的数据将直接影响到产品的可靠性和使用者的安全。   

- 设备损坏：长期在不良接地环境下运行的设备可能会因为漏电而受到损害，最终导致维修成本增加和生产延误。 

 

自动化机械手臂产生大量杂讯干扰 

随着自动化技术在生产线上的应用，自动化机械手臂成为了提高生产效率的重要工具。然而，这些机械手臂在运行过程中会产生大量的电磁干扰（EMI），这些干扰会影响到测试设备的正常运作。特别是在进行高精度测试时，任何外部杂讯都可能导致数据失真，从而影响产品的最终品质。

具体而言，自动化机械手臂带来的干扰有以下几个方面：
- 电磁干扰：自动化设备在运行时会产生较大的电磁场，这些电磁场对一般IT产品可能影响不大，但对生理讯号这些小讯号却是致命的。例如，在进行心电图（ ECG ）测试时，如果周围有较大的 EMI ，就可能导致数据的不准确。

- 信号丢失：由于机械手臂运行时产生的振动和噪音，可能会使得信号传输不稳定。在穿戴式装置测试中，如果信号丢失或受到干扰，就无法获得准确的测试结果。

- 增加维护成本：由于干扰和杂讯问题，需要定期对设备进行维护和校正，以确保其正常运作，可能增加工厂的人力与营运成本。

 

漏电损害机器性能、增加安全风险    

漏电问题在电子产品的生产过程中非常普遍，这可能导致设备短路或衍生其他故障问题。因此，在穿戴式装置的产线测试中，有效管理漏电问题至关重要。

漏电问题具体影响包括：    
- 设备损坏：长期存在漏电情况会导致设备内部元件过热、老化加速，最终可能导致设备故障。

- 性能不稳定：漏电现象可能导致设备在使用过程中出现异常，例如显示错误资讯或无法正常启动。这类问题不仅影响使用者体验，也增加了售后服务成本。

- 安全隐患：漏电可能对使用者造成触电危险。当人体接触到带有漏电的设备时，电流可能通过人体流向地面，造成严重伤害甚至死亡。在某些情况下，漏电也可能引发火灾等安全事故。因此，需严格控制漏电问题，以保障工厂及使用者的人身安全。

 

针对穿戴式装置产线测试设计的解决方案

为了解决上述问题与挑战，WECG400 作为一款专业的穿戴式装置测试解决方案，其设计原理充分考虑了各种潜在问题。　

双重保护设计

WECG400 采用了双重保护设计，以应对环境变化并提高设备稳定性。保护元件的位置经过精心调整，以减少外部杂讯对设备性能的影响。

 

调整阻抗至最合适值降低电流与突波损害

WECG400允许使用者根据实际需求设定 10MΩ 的阻抗值，以降低输入电流或静电 (ESD) 与突波 (Surge) 的影响。这一设计能够有效防止高电流对设备造成损害，同时降低环境杂讯对测试结果的影响。这种灵活性使得 WECG400 能够适应不同环境下的测试需求。 (详请请见补充：智能手表性能测试操作建议)

ESD 防护能力高于法规标准

WECG400 在设计上优于国际标准 IEC61000-4-2 的规范，可以执行最高等级±15kV 的静电防护测试，确保其 ESD 静电防护能力足以用于产线和较恶劣的环境。在电子产品测试中，ESD 是一个不可忽视的因素。 WECG400 透过精确设计和高品质材料，有效降低静电与突波 (Surge) 对测试过程的干扰。

同时，为了彻底隔绝测试环境的辐射与杂讯，在使用 WECG400 测试前，可执行三个前置作业，包含：以特殊方式连接线材、使用 USB 隔离器，以及连接 WECG400 至大金属片，用以建立一个与车间接地完全隔绝的地面，避免公频率和其他杂讯的干扰。

 

结语

穿戴式装置的产线测试面临诸多挑战，包含接地与配电状况不佳、自动化机械手臂带来的干扰以及静电与漏电问题。然而，通过使用 WECG400 这样先进的测试解决方案，可以有效解决问题。其双重保护结构、灵活设定以及高于标准的 ESD 防护设计，使得 WECG400 成为研发工程师在穿戴式装置产线测试中的理想选择。

随着科技日新月异和市场需求不断地增长，未来穿戴式装置的生产将更加依赖于高效、稳定的测试解决方案。选择合适的工具和技术将是提升产品品质和市场竞争力的重要因素。在产品开发过程中，每一个测试与验证阶段的重要性都不容忽视，每一步都需谨慎对待，以确保最终交付给使用者的是高品质且可靠的产品。

 

补充：智能手表性能测试操作建议

进行 DUT（以智能手表为例）测试时，请务必遵循以下步骤，以确保测试的准确性和安全性：

设定 WECG400 到10M 欧姆档位

• 原因：为了避免高电压的静电放电和突波 (Surge) 损坏模拟器内部元件。
• 操作建议：

①. 将模拟器设定为 10M 欧姆档位，作为第一级防护。
②. 确保四个通道的 DUT 都已正确放置并与模拟器连接后，再进行测试。
③. 在完成四个 DUT 测试并移除 DUT 之前，再次将模拟器设定为 10M 欧姆档位。 

注: 当进行「不使用 10M 欧姆的测试项目」时，还是有可能损坏模拟器。但综上操作建议，已经大幅降低损坏风险。